光焱(Enli)

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QE-R系統可以測試晶硅電池（Si），非晶硅電池（a-Si），多結電池（Tandem），染料敏化電池（DSSC），有機電池（OPV），銅銦鎵硒（CIGS），聚光電池（HCPV）等各種太陽能電池。

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針對CCD、CMOS、image sensor、相機等圖像影像傳感器開發，適合多種規格的芯片和板卡性能測試，包括量子效率、光譜響應、系統增益、飽和照射光子數、最小可探測照射光子數、動態范圍、暗電流、線性度和線性誤差、光電響應不均勻度、暗信號不均勻度、CRA特性測量。

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SS-F5-3A為AAA級太陽能模擬器，用以測量太陽能電池效率，其光斑大小為5 cm x 5 cm或7 cm x 7 cm。采光纖導光功能，可配合實驗室需求，依據場所任意移動，并自由調整出光方向，便于應用各種領域，也可與手套箱結合。

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激光掃描缺陷影像儀，是激光束誘導電流測試（LBIC）的升級版，利用波長能量大于半導體能隙大的激光束，照射在半導體后產生的電子-空穴對，通過快速的掃描樣品表面，獲得影像分布，可以得到內部電流的變化來了解分析各種的缺陷分布，幫助分析樣品制備質量以及幫助工藝改進。

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太陽能電池老化設備支持最大 128 通道且各別參數設定量測記錄功能，光源照射面積可達 20x20cm,長時間操作條件選擇：開路、短路或最大功率點條件?？椭苹瘶悠放_，可選用不同配備并支持 IR 及 UV 光源。

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具備 6 吋電池片可自動上下料，并搭配高畫素 CCD 與符合 IEC60904-9 (Ed.3CDV 標準草案) 3A+ 等級之仿真器光源，進行 I-V 測試與 EL 影像拍照，以及搭配分類軟件進行電池片分選。

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高靈敏度光致/電致發光測量系統?？蓽y試太陽能電池薄膜發光光譜。

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配光曲線量測系統，可測試 LED 與發光器件之配光曲線。

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光斑面積為 200 mm × 200 mm，符合第三方國際計量標準 IEC 60904-9 與 ASTM E927 3A 等級，兼具光電器件伏安特性 (I-V Measurement) 檢測專用光源及太陽能電池功率檢測的太陽光模擬器。

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光斑面積為 200 mm x 200 mm，全自動無主柵太陽能電池功率測試，可依據客戶產線流程，客制產線自動化機臺上下料或分選機，并配備 10~1000 ms 脈沖寬度太陽光模擬器，高適用性可兼容各類高效電池，為企業大幅提升太陽能電池檢測效率。

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光斑面積為 180 mm × 180 mm，符合第三方國際計量標準 IEC 60904-9 與 ASTM E927 3A 等級，兼具光電器件伏安特性 (I-V Measurement) 檢測專用光源及太陽能電池功率檢測的太陽光模擬器。

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SS-F7-3A 太陽能模擬器，用以測量太陽能電池效率，其光斑大小為 70 mm x 70 mm。采光纖導光功能，可配合實驗室需求，依據場所任意移動，并自由調整出光方向，便于應用各種領域，也可與手套箱結合?？纱钸x配光強度調正光圈來做自動光強度變化量測。

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室內太陽能電池測試和特性分析系統能模擬室內光源各種光色、各種強度光譜，高均勻度(≦±2%)、大面積(> 可訂制)，可溯源光強校正元件，可準確評價室內用太陽能電池的轉換效率。

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SS-F20-CBA大面積太陽光仿真器系統:1200瓦光源,照射面積≧200 x 200mm

停產

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測試光電傳感器，CMOS，CCD等光電器件的光譜響應。

停產

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SR-156是光焱科技致力研發的光譜響應量測系統，獨特的156×156 mm2照射面積，用以量測硅晶電池的光譜響應，解決當前僅能測得電池片局部光譜響應的問題；并依據國際電工法規(IEC)進行光譜不合致度因子(Spectral Mismatch Factor)的修正；

停產