半導體設備

KEYSIGHT(是徳)

Keysight B1500A半導體參數分析儀是一款多功能的設備特性分析儀，支持IV，CV，脈沖/動態IV等。大型機和插入式模塊可表征大多數電子設備以及材料，半導體和有源/無源組件。 B1500A模塊化體系結構使您可以根據需要靈活地進行升級。

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Keithley(吉時利)

4200-SCS半導體特性分析系統是用于器件、材料和半導體工藝參數分析的完整解決方案。這種先進的參數分析儀具有無可比擬的測量靈敏度和精度，同時繼承了嵌入式Windows操作系統和吉時利交互式測試環境，為半導體科研及產業用戶進行半導體器件特性分析提供了直觀而高級的功能

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Keithley(吉時利)

2600-PCT-xB大功率半導體器件測試系統可以提供高達10kV或100A的電流、電壓測試范圍，可完美匹配目前的大功率半導體器件測試對大電壓和大電流的要求，通過增加選件也可實現高壓交流信號測試，最大電壓可達3kV。

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同惠(Tonghui)

TH510系列半導體C-V特性分析儀創新性地采用了雙CPU架構、Linux底層系統、10.1英寸電容式觸摸屏、中英文操作界面、內置使用說明及幫助等新一代技術，適用于生產線快速分選、自動化集成測試及滿足實驗室研發及分析。TH510系列半導體C-V特性分析儀測試頻率為10kHz-2MHz，VGS電壓可達±40V，足以滿足二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導體件CV特性測試分析。

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加速科技(SPEEDCURY)

ST2500系列高性能數字混合信號測試系統支持250Mbps數據傳輸，125Mhz Pattern Rate。支持多機頭級聯，實現32~1280數字通道靈活組合配置，實現較高機器利用率。系統業務板采用all-in-one模式（單板集成PEx32、PPMUx32、TMUx4、BPMUx4、DPSx4、AWGx1、DGTx1、CBITx8），對于小型芯片測試應用，具有極高的成本優勢。

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加速科技(SPEEDCURY)

為了更好地滿足客戶高性能、高穩定性的測試需求，加速科技重磅推出了新一代測試系統ST5000系列。該系列包含ST5000與ST5000HD兩款產品，最高支持1024數字通道配置、1Gbps速率傳輸，Pattern Rate 支持250Mhz。硬件結構采用Direct Docking連接方式，兼容Jtype針卡，較大程度降低客戶轉平臺治具成本。配套設計的公用loadboard，可以極大縮短客戶產品硬件開發周期。ST5000還具有靈活的可擴展性，為后期藍牙測試模塊、RF測試模塊及各類高性價比解決方案奠定了良好基礎。

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加速科技(SPEEDCURY)

一款基于藍牙標準SIG認證的自動化測試設備，用于藍牙芯片的自動化測試。ST7008支持3GPP TS38.521 Release 15/16 版本、Sub-6GHz 多域并行測試，擁有信號接收、頻率測試分析等功能，測試準確度高且操作便利。搭配ST2500/ST5000 系列產品可提供 RF/Digital 全方位 ATE 測試解決方案。多通道靈活配置，單表支持8部終端在線測試。

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加速科技(SPEEDCURY)

ST-G604P是料管式的全自動入料、并行四通道的集成電路分選機。設備由自動進料部件、測試梭、自動分料梭、電子控制系統、氣動系統以及機架部分組成，其采用金手指夾具，壽命可達30萬次。ST-G604P支持自定義設置分BIN,最多設置8BIN,通過TTL通訊協議搭載ATE測試設備，即可實現對芯片的測試分BIN。

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加速科技(SPEEDCURY)

ST-G604C是料管式的全自動入料、半自動出料的集成電路分選機。設備由自動進料部件、測試梭、自動分料梭、電子控制系統、氣動系統以及機架部分組成，支持四組料管出料(PASSx2,NGx2)，四軌道并聯四工位測試。ST-G604C分選機支持自定義設置分BIN,最多設置8BIN,通過TTL通訊協議搭載ATE測試設備，即可實現對芯片的測試分BIN。

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加速科技(SPEEDCURY)

SE-G604C是管料式的全自動入料、半自動出料的集成電路分選機。設備由自動進料部件、測試梭、自動分料梭、電子控制系統、氣動系統以及機架部分組成，支持8BIN雙組料管測試(PASS和NG)，料管支持手動裝卸。SE-G604C分選機通過TTL通訊協議搭載ATE測試設備，即可實現對芯片的測試分BIN。

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森美協爾(SEMISHARE)

X系列是一款專業應對各類先進芯片性能測試 的綜合型半自動晶圓探針臺，集成了電學、光波、微波等多種功能，高測試精度、運行效率與系統穩定性，可匹配多種測試應用環境，能為各類晶圓和器件提供可靠性測試。

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森美協爾(SEMISHARE)

CG系列探針臺可提供在超高真空與高低溫轉換的環境下， 實現對器件及材料表征的IV/CV特性測試、射頻測試、光電 測試、電磁輸運特性及霍爾效應等測試。 通過設置真空腔、防輻射屏等結構，能夠有效的營造一個集 成高溫、低溫、真空等測試環境，能夠為生產出來的半導體器件提供穩定的測試環境。

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森美協爾(SEMISHARE)

C系列探針臺通過增加屏蔽腔體的結構可實現無電磁干擾 (EMI) /射頻干擾 (RFI)和不透光的測量環境，可在非真空條件下實現高低溫測試需求。

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森美協爾(SEMISHARE)

FA系列探針臺是專為失效分析實驗室設計的一款量測設備，具光學特性、激光特性，設備結構穩定，系統性能優異， 支持多功能升級，產品功能豐富齊全。

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森美協爾(SEMISHARE)

SEMISHARE研發的卡盤移動技術，可滿足您對整片晶圓快速測試的需求，H系列探針臺非常適合研發類實驗室的一次性預算購置。

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森美協爾(SEMISHARE)

E系列是一款功能進階級探針臺，能實現1μm以上的電極Pad測試，可通過較低的成本升級更多的測試功能。

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森美協爾(SEMISHARE)

如果您的測試PAD大于30μm，M系列則是您在實驗室中的優選設備之一

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Keithley(吉時利)

吉時利的參數分析系統配置是功率器件特性分析的完整分析方案，包括高質量儀器、電纜、測試夾具和軟件。提供7種配置，每種配置都具有快速檢查器件基本參數（例如擊穿電壓）的實時跟蹤模式和提取精密器件參數的完全參數模式。

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Keithley(吉時利)

S500自動參數測試系統基于吉時利公司的高性能源表及電測技術，可完成各種直流、交流信號測試，可廣泛用于半導體工藝制程的過程監控、重復性監控及器件檢測領域。

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